Summary
Se presenta un detallado método para la fabricación de películas ultra delgadas color con características mejoradas para recubrimientos ópticos. La técnica de deposición oblicua utilizando un evaporador de haz de electrones permite afinabilidad de mejor color y pureza. Películas fabricadas de Ge y Au en substratos Si fueron analizadas por las mediciones de reflectancia y conversión de información de color.
Abstract
Estructuras de película ultra fina se han estudiado extensivamente para el uso como recubrimientos ópticos, pero sigue habiendo problemas de rendimiento y fabricación. Presentamos un método avanzado para la fabricación de películas ultra delgadas color con características mejoradas. El proceso propuesto aborda varios problemas de fabricación, incluyendo procesamiento de área grande. Específicamente, el protocolo describe un proceso para la fabricación de películas ultra delgadas color usando un evaporador de haz de electrones para la deposición de ángulo oblicuo de oro (Au) sobre sustratos de silicio (Si) y germanio (Ge). Porosidad de la película producida por la deposición de ángulo oblicuo induce cambios de color en la película ultra delgada. El grado de cambio de color depende de factores tales como el grosor de ángulo y de la película de deposición. Fabrican las muestras de las películas de color ultra delgado demostradas afinabilidad de color mejorada y la pureza del color. Además, la reflectancia medida de las muestras fabricadas fue convertida en valores cromáticos y analizada en términos de color. Se espera que nuestra película ultra fina fabricación método ser utilizado para diversas aplicaciones de película ultra fina como electrodos de color flexible, las células solares de película delgada y filtros ópticos. Además, el proceso desarrollado aquí para analizar el color de las muestras fabricadas es ampliamente útil para el estudio de varias estructuras de color.
Introduction
En general, el rendimiento de recubrimientos ópticos de capa fina se basa en el tipo de interferencia óptica producen, tales como alta reflexión o transmisión. En películas dieléctricas delgadas interferencia óptica puede obtenerse simplemente reúna condiciones tales como el grosor de barrio onda (λ/4n). Principios de interferencia han sido utilizados en diversas aplicaciones ópticas como interferómetros de Fabry-Perot y Bragg distribuido reflectores de1,2. En los últimos años, película delgada utilizando materiales muy absorbentes como metales y semiconductores han sido ampliamente estudiados3,4,5,6. Fuerte interferencia óptica puede obtenerse por capa fina capa de un material semiconductor absorbente en una película metálica, que produce cambios de fase no trivial en las ondas reflejadas. Este tipo de estructura permite recubrimientos ultra delgados que son considerablemente más delgadas que capas thin-film dieléctricas.
Recientemente, hemos estudiado maneras de mejorar la afinabilidad de color y pureza de color de películas delgadas altamente absorbentes con porosidad7. Mediante el control de la porosidad de la película depositada, el índice de refracción eficaz del medio de película delgada puede ser cambiado8. Este cambio en el índice de refracción eficaz permite que las características ópticas para mejorarse. Basado en ello, diseñamos películas ultra delgadas de color con diferentes espesores y porosidades por cálculos utilizando onda acoplado riguroso análisis (RCWA)9. Nuestro diseño presenta colores con espesores de película diferente en cada porosidad7.
Se empleó un método simple, deposición de ángulo oblicuo, para el control de la porosidad de recubrimientos de capa fina altamente absorbentes. La técnica de deposición oblicua básicamente combina un sistema de deposición típica, como un electrón viga evaporador o evaporador térmico, con un sustrato inclinado10. El ángulo oblicuo del flujo incidente crea sombra atómica, que produce que el flujo de vapor no puede comunicarse directamente con11áreas. La técnica de deposición de ángulo oblicuo ha sido ampliamente utilizada en varios película delgada capa aplicaciones12,13,14.
En este trabajo, se detallan los procesos para la fabricación de películas ultra delgadas color por deposición oblicua utilizando un evaporador de haz de electrones. Además, otros métodos para el procesamiento de gran superficie se presentan por separado. Además de las fases del proceso, algunos apuntes que deben tenerse en cuenta durante el proceso de fabricación se explican en detalle.
También repasamos los procesos para la medición de la reflectancia de las muestras fabricadas y convertirlos en información de color para el análisis, por lo que puede expresarse en coordenadas de color CIE y RGB valores15. Además, se discuten algunos aspectos a considerar en el proceso de fabricación de películas ultra delgadas color.
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Protocol
PRECAUCIÓN: algunos productos químicos (es decir, grabador con óxido, alcohol isopropílico, etc.) utilizados en el presente Protocolo pueden ser peligrosos para la salud. Consulte todas las hojas de datos de seguridad de materiales antes de cualquier preparación de la muestra. Utilizar equipo de protección personal (por ejemplo, batas, gafas, guantes, etc.) y controles (por ejemplo, la estación húmeda, de humos campana, etc.) de ingeniería manejo de grabadores y solventes.
1. preparación del sustrato Si
- usando un cortador de diamante, cortar una oblea de silicio (Si) de 4 pulgadas de 2 cm x 2 cm tamaño de plazas. Para hacer muestras de color, el sustrato por lo general se corta 2 cm x 2 cm, pero puede ser mayor, dependiendo del tamaño de lo portamuestras utilizado para la deposición oblicua.
- Para quitar el óxido nativo con cazo de politetrafluoroetileno (PTFE), sumergir los sustratos Si hendidos en grabador de óxido tamponado (BOE) de 3 s. PRECAUCIÓN: Utilice protección adecuada para la seguridad.
- Limpiar los sustratos Si hendidos secuencialmente en acetona, alcohol isopropílico (IPA) y agua desionizada (DI) para 3 cada s.
- Usar PTFE limpieza plantilla, someter a ultrasonidos los sustratos Si exfoliados con acetona en un baño ultrasónico durante 3 min a una frecuencia de 35 kHz.
- Para retirar la acetona, enjuague los sustratos Si exfoliados con IPA.
- Como el último paso de la limpieza, enjuagar los sustratos Si troceados con agua DI.
- Para eliminar la humedad seque el sustrato limpio con una pistola de soplado de nitrógeno mientras lo sujeta con pinzas.
2. Deposición del Reflector Au
- con pinzas y carbono cinta, fijar los sustratos Si limpiados sobre un soporte plano muestra y coloque el soporte en la cámara del evaporador de haz de electrones con fuentes Ti y Au.
- Evacuar la cámara durante 1 hora llegar a alto vacío. La presión base de la cámara de vacío debe ser de 4 x 10 -6 Torr.
- Depósito de la capa de Ti como capa de adherencia a un grosor de 10 nm con 5-7% de electrón viga energía controlada en modo manual a una tensión DC de 7.5 kV, que da una tasa de deposición de 1 Å / seg
Nota: Una capa de Cr del mismo espesor, en lugar de una capa de Ti, puede ser depositada como la capa de adherencia. - Depósito de la capa de Au como una capa de reflexión a un grosor de 100 nm con 13-15% de electrón viga energía controlada en modo manual a una tensión DC de 7.5 kV, que da una tasa de deposición de 2 Å / seg
Nota: El espesor de la capa de reflexión Au puede ser mayor a 100 nm. Un espesor de 100 nm se deposita aquí para hacer la capa de reflexión tan fina como sea posible manteniendo las propiedades ópticas de la UA.
Deposición de la capa de - después de la Au, la cámara de ventilación y tomar las muestras. Deben ser recargadas con el portamuestras inclinados para la deposición oblicua.
3. Preparación del portamuestras inclinados para deposición oblicua
Nota: hay varios métodos que pueden utilizar para deposición oblicua, tales como la rotación del eje portabrocas 16, pero esto requiere películas y modificación sólo pueden ser depositadas en un ángulo a la vez. Para observar eficazmente los cambios de color producidos por ángulos diferentes de la deposición, utilizamos portamuestras que inclinación las muestras en diferentes ángulos. Para la precisión, el portamuestras inclinados pueden hacerse utilizando equipos de procesamiento de metal. Sin embargo, en este trabajo presentamos un método simple que puede ser seguido fácilmente.
- Preparar una placa de metal de un fácilmente bendable metal como el aluminio.
- Cortada la chapa tres de 2 x 5 cm.
- Fijar la pieza de metal en el suelo junto a un transportador, sujete el lado corto y doblar el metal hacia el ángulo de deposición deseada (es decir, 30 °, 45 ° y 70 °).
- Coloque las piezas de metal dobladas en el portamuestras de 4 pulgadas con cinta de carbono.
4. Ángulo oblicuo la deposición de la capa de Ge
Nota: en esta sección, se refieren a los diagramas esquemáticos en la figura 1 de las muestras se depositaron sobre el portamuestras inclinados y películas porosas de Ge, tras oblicua ángulo de deposición.
- Fijar las cuatro muestras de Au depositado con cinta de carbón a un portamuestras inclinados en ángulos de 0°, 30°, 45° y 70°, respectivamente.
- Cargar los samples Au-depositado en el portamuestras inclinados en el evaporador de haz de electrones con una fuente de Ge para deposición oblicua.
- Evacuar la cámara durante 1 hora llegar a alto vacío. La presión base de la cámara de vacío debe ser de 4 x 10 -6 Torr.
- Depósito de la capa de Ge como una capa de colorante con 6-8% del electrón viga energía controlada en modo manual a una tensión DC de 7.5 kV, que da una tasa de deposición de 1 Å por segundo. Los espesores de la deposición de la capa de Ge en las cuatro muestras son 10 nm, 15 nm 20 nm y 25 nm, respectivamente.
Nota: Los deposición espesores de 10 nm, 15 nm 20 nm y 25 nm fueron seleccionados para facilitar la comparación de los cambios de color para cada ángulo de deposición. Un ángulo diferente y grueso (5-60 nm) pueden ser elegidos para conseguir un determinado color. - Deposición de capa después de la Ge, la cámara de ventilación y tomar las muestras en.
5. Proceso de deposición de ángulo oblicuo para grandes áreas
Nota: Si el tamaño de la muestra utilizada para la deposición de ángulo oblicuo es pequeño, pueden ser fabricado por el proceso detallado en el paso 4. Sin embargo, si el tamaño de la muestra para ser fabricado es grande, se hace difícil mantener la uniformidad de la película debido a la variación en el flujo de evaporación a lo largo del eje z 16. Por lo tanto, un proceso adicional separado, paso 5, es necesaria para fabricar muestras más grandes y lograr un color uniforme.
- De unas 2 pulgadas oblea, después de depositar la capa de Au en la gran muestra en el paso 2, fijar la muestra grande Au-depositado el portamuestras inclinados de 45°.
Nota: Puesto que nuestra muestra inclinado está diseñado para adaptarse a pequeñas muestras, muestras grandes de carga en todos los ángulos (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °) creará interferencias entre las muestras. Por lo tanto, para oblicuamente depositar muestras de gran tamaño en varios ángulos en un solo proceso, es necesario tener un portamuestras inclinados adecuado para muestras de gran tamaño. - Au-depositado gran muestra en el portamuestras inclinados de la carga en el evaporador de haz de electrones con una fuente de Ge para deposición oblicua.
Nota: Cuando se carga la muestra, la segunda capa de deposición debe ser depositado en la misma dirección que la primera deposición, así que observe la dirección de la muestra cargada. Para mayor comodidad, se recomienda que el sostenedor de la muestra se carga hacia el frente de la cámara de. - Evacuar la cámara por 1 h a llegar a alto vacío. La presión base de la cámara de vacío debe ser de 4 x 10 -6 Torr.
- Depositar la capa de Ge como una capa de colorante en un espesor de depósito de 10 nm, que es la mitad del grueso del destino de 20 nm, con 6-8% del electrón viga energía controlada en modo manual a una tensión DC de 7.5 kV, que da una tasa de deposición de 1 Å / seg
- Una vez terminado el depósito de la primera capa de Ge, ventilar la cámara y sacar la muestra, porque la muestra debe ser colocado de nuevo y volver a cargar.
- Fijar la muestra en el portamuestras inclinados en una posición invertida con respecto a la posición de la primera deposición.
- Carga la muestra en el portamuestras inclinados con la fuente de Ge para que el titular se enfrenta en la misma dirección que la primera deposición.
- Evacuar la cámara durante 1 hora llegar a alto vacío. La presión base de la cámara de vacío debe ser de 4 x 10 -6 Torr.
- Depositar la capa de Ge como una capa de colorante en un espesor de depósito de 10 nm, que es la mitad del grueso del destino de 20 nm, con 6-8% del electrón viga energía controlada en modo manual a una tensión DC de 7.5 kV, que da una tasa de deposición de 1 Å / seg
- Deposición de capa después de la Ge, ventilar la cámara y sacar la muestra.
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Representative Results
Figura 2a muestra imágenes de las muestras de 2 cm x 2 cm fabricado. Las muestras fueron fabricadas para que las películas tenían diferentes grosores (es decir, 10 nm, 15 nm 20 nm y 25 nm) y se depositaron en diferentes ángulos (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °). El color de los cambios de películas depositados dependiendo de la combinación de ambos el espesor de las muestras y el ángulo de deposición. Los cambios en el color como resultado de los cambios en la porosidad de la película. Dependiendo del ángulo de deposición, se crean matrices inclinadas de nano-columnas individuales en el substrato, como se muestra en las imágenes de SEM izquierdas de la figura 2. De los resultados experimentales, se observa que a mayores ángulos de deposición, el cambio de color para cada ángulo de deposición es menos marcado.
Figura 2b muestra los resultados de las mediciones de reflectancia de las muestras fabricadas. El color es cambiado por un cambio en la inmersión mínima de reflectancia. Como se muestra por el cambio de color en la Figura 2a, la inmersión de reflexión ha cambiado lentamente en ángulos más altos de la deposición. Con cada espesor de la capa de Ge, el dip de reflexión cambia con el ángulo de deposición. El color es cambiado por estos cambios en el buzamiento de la reflexión.
Para analizar las muestras fabricadas desde una perspectiva de color, las reflectancias medidas necesitan ser convertidos a valores cromáticos. Para la conversión a los valores cromáticos, en nuestros cálculos, la función del observador estándar CIE 1931, más comúnmente utiliza función de igualación de color, fue trabajador por cuenta ajena13. En el cálculo, la reflectancia medida se multiplica por la función de una distribución de potencia espectral de entonado de colores. Figura 3a muestra la respuesta espectral con el color que empareja la función de la reflectancia medida de muestras con ángulos diferentes de la deposición (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °) y un espesor de la capa de Ge de 15 nm. Integrando estas respuestas espectrales, los valores triestímulos x, Y y Z, que son los parámetros básicos para expresar la información de color, se pueden obtener. En las coordenadas de color CIE, la cromaticidad de un color especificada por los parámetros derivados dos x y y y los valores normalizados de todos los valores triestímulos tres utilizando las siguientes ecuaciones:
Partiendo de estas ecuaciones, figura 3b muestra la cromaticidad de las muestras con ángulos diferentes de la deposición en el sistema de coordenadas de la CIE.
Figura 4a muestra los valores cromáticos después de que se han convertido de la reflectancia medida en la figura 3a en el sistema de coordenadas de color CIE. Para la comparación, también se trazaron los resultados calculados, como se muestra por líneas discontinuas. En el cálculo, los índices efectivos de Ge se calculan basándose en las porosidades esperados para cada ángulo de deposición7. Entonces, usando estos índices eficaces, los valores de reflectancia se calcularon por onda acoplado riguroso análisis (RCWA)9. En comparación con el sistema de coordenadas de la CIE, los resultados experimentales fueron bien coincide con los resultados calculados.
Comparando los rangos de los valores cromáticos de las muestras, las muestras con ángulos de alta deposición exhibieron una gama cromática más amplia. Esto significa que la gama de expresiones de color era amplia, con mayor pureza de color. La mayor pureza de color en ángulos más altos de la deposición se atribuye a la reducción en la reflexión superficial debidos a la porosidad más alta debido a la deposición en ángulos más altos.
La información del color de la reflectividad se puede convertir en valores RGB para representar colores15. Figura 4b se muestra la representación de color después de convertir la información de color de la reflectancia medida de las muestras en valores RGB. Las fotografías no pueden representar con exactitud los colores de cierto muestra, debido a diferencias en la iluminación u otras condiciones, pero se aprecia la tendencia general en el cambio de color de muestra a muestra.
La figura 5 muestra imágenes de las muestras fabricadas en una oblea de 2 pulgadas, usando el proceso del área grande. Cuando una muestra grande de la fabricación, el espesor depositado difiere dependiendo de la posición de la superficie. Una solución a este problema es realizar el depósito en dos pasos, como se detalla en el paso 5 del protocolo. La primera capa, con la mitad del espesor deseado, se deposita en un ángulo positivo de la deposición, y la segunda mitad se deposita en un ángulo negativo de deposición. De esta manera, mediante el depósito de ángulos positivos y negativos, las diferencias de espesor compensará entre sí, y puede obtenerse un espesor uniforme.
Nuestros objetivos eran de 20 nm y 40 de nm de espesor, en un ángulo de deposición de 45°, sin embargo, los resultados mostraron depósitos más gruesos. Esto es porque el grosor promedio compensado se formó en la dirección vertical en una posición más cercana a la fuente que el sostenedor de la muestra del16. Así, cuando la fabricación a gran escala usando este método, es de esperar que la película depositada sea más gruesa que el espesor objetivo.
Figura 6 muestra imágenes de las muestras fabricadas a diferentes ángulos de visión y reflectancia medido en diferentes ángulos de incidencia. Como se muestra en las imágenes, hay pocos cambios en el color basado en ángulos de visión. Las pendientes mínimas de los valores de reflectancia medidos en diferentes ángulos también apenas fueron cambiados de puesto por los ángulos incidentes. Básicamente, estas capas son mucho más delgadas que las longitudes de onda de la luz incidente, hay muy poca diferencia de fase resultante del ángulo de incidencia mayor en comparación con el caso de incidencia normal.
Figura 1 : Diagramas esquemáticos de (un) las muestras depositadas en el portamuestras inclinados y (b) poroso Ge películas crean por la deposición oblicua. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
clase = "xfig" > Figura 2: (a) imágenes de las muestras fabricadas en ángulo de deposición diferente (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °) con diferentes espesores de Ge (es decir, 10 nm, 15 nm, 20 nm 25 nm y 100 nm). A la izquierda, escala de grises figuras Mostrar imágenes de microscopia corresponde a las muestras con espesor de Ge de 200 nm para mostrar mejor la morfología. Barra de escala = 100 nm. (b) medir espectros de reflectancia para cada espesor de Ge (es decir, 10 nm, 15 nm 20 nm y 25 nm) con ángulos diferentes de la deposición (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °). Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
Figura 3 : (una) respuesta cromática de los valores triestímulos y (b) la trama de la CIE con ángulos diferentes de la deposición (es decir, 0 °, 30 °, 45 ° y 70 °) a un espesor de Ge de 20 nm. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
Figura 4 : (un) cromática valores en las coordenadas CIE de los valores medidos de reflectancia de las muestras fabricadas, que muestra los resultados calculados. (b) representación de Color basada en las reflectancias medidas de las muestras fabricadas. A la izquierda, escala de grises figuras Mostrar imágenes de microscopia corresponde a las muestras con espesor de Ge de 200 nm para mostrar mejor la morfología. Barra de escala = 100 nm. Esta figura se ha reproducido de 7 con el permiso de la Real Sociedad de química. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
Figura 5 : Imágenes de muestras fabricadas en oblea de 2 pulgadas con espesores diferentes Ge de (un) 20 nm y (b) 40 nm en un ángulo de 45 ° de deposición.
Figura 6 : Imágenes con diferentes ángulos de visión de 5° a 60° y espectros de reflectancia medido en ángulos oblicuos de 20° a 60° de fabricaron muestras con (un) un espesor de Ge de 15 nm en un ángulo de deposición de 0 °, (b) espesor Ge 25 nm en un depósito de un GLE de 70°. Esta figura se ha reproducido de Y. J. Yoo et al. 7, con el permiso de la Real Sociedad de química.
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Discussion
En recubrimientos de película delgada convencional para coloración3,4,5,6, el color puede controlarse por alteración de diversos materiales y ajustando el espesor. La elección de materiales con diferentes índices de refracción se limita para la adaptación de varios colores. Para relajarse esta limitación, explota la deposición oblicua a la capa del color de capa fina. Dependiendo del ángulo de deposición, la porosidad de la capa se cambia por atómica de Ge sombreado11, como se muestra en la Figura 1b. La porosidad aplicada a la película delgada de Ge causa un cambio en el índice eficaz de la capa de Ge7. El cambio de fase de la luz propagación en el medio de Ge varía con el cambio del índice de efectivo por la deposición de ángulo oblicuo. Como resultado, el color cambia con las condiciones de interferencia distintos en las longitudes de onda visibles. Especialmente en nuestras películas ultra delgadas de color, el bajo índice eficaz en un ángulo muy oblicuo deposición había mejorado la pureza del color con baja reflexión superficial y la afinabilidad con un cambio de fase más pequeños.
En nuestro protocolo, paso 4 es el proceso más crítico para la coloración. Para ejecutar con éxito el paso 4, consideramos que la calidad de la película es un factor crítico en la coloración de capa óptica de película delgada. La calidad de la película puede cambiar el índice de refracción y sutilmente afecta a la coloración. La calidad de la película depende de la naturaleza y condiciones de los equipos de deposición. En nuestro caso, un evaporador de haz de electrones fue utilizado como el equipo de deposición, y presión constante y las tasas de deposición fueron mantenidas para asegurar la estabilidad de la película. Además, medimos las constantes ópticas de las películas delgadas depositadas en estas condiciones constante, y mediante el uso de las constantes ópticas medidas, el color de la película fina podría predijo y analizado. Para lograr un color deseado exacto y para ajustar el color utilizando el espesor de la película, asegurar la estabilidad de condiciones, tales como la tasa de presión y depósito de los equipos de deposición. Especialmente, en el caso de diferentes equipos, las varias condiciones de los equipos deben optimizarse para la adaptación de películas a color ultra delgada.
En el proceso de deposición de ángulo oblicuo grande área, deposición de película es no uniforme debido a la diferencia vertical entre la fuente y el sustrato. En el proceso de evaporación del haz de electrones, la densidad de flujo de vapor varía en la dirección vertical de la fuente. En alto ángulo oblicuo, hay una diferencia vertical dependiendo de la posición del sustrato, lo que hace que la densidad de flujo a diferentemente dependiendo de la posición de la superficie.
El proceso detallado en el paso 5 del protocolo fue desarrollado para compensar esto. Este método es simple y puede ser fácilmente seguido sin modificar el equipo. Sin embargo, como se mencionó en la sección de resultados, el proceso tiende a resultar en mayor espesor de película que el espesor objetivo. Otro método de proceso de gran superficie que puede solucionar este problema del grueso es modificar el mandril en la cámara donde se carga la muestra para que gire en el eje z. Cuando la muestra se carga en el centro de la rotación del eje, el centro de la muestra seguirá siendo siempre una distancia constante de la fuente. Por lo tanto, incluso con la deposición de ángulos positivos y negativos, se logra un grosor uniforme. Por otra parte, cabe señalar que el ángulo oblicuo de la muestra se puede cambiar manteniendo el vacío porque el mandril es rotativo en el eje z dentro de la cámara.
En conclusión, hemos presentado un proceso para la fabricación de películas a color ultra delgadas con deposición oblicua de un evaporador de haz de electrones. Además, detalla un método para convertir las medida propiedades ópticas de las muestras fabricadas en la información de color y las analizaron en términos de color con sus coordenadas CIE. Este proceso se utiliza para medir y analizar los colores de las muestras fabricadas también puede ser útil para el análisis de varias otras estructuras para colorear. En este estudio, se observaron cambios en el color dependiendo del grosor de la película ultra delgada y el ángulo de deposición. Nuestras estructuras de color ultra delgada pueden ser ampliamente utilizados para los varios usos de capa fina como electrodos de color flexible, las células solares de película delgada y filtros ópticos.
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Disclosures
Los autores no tienen nada que revelar.
Acknowledgments
Esta investigación fue apoyada por vehículos no tripulados avanzado núcleo tecnología investigación y desarrollo de programa a través del sin tripulación vehículo avanzado investigación centro (UVARC) financiado por el Ministerio de ciencia, TIC y planificación de futuro, la República de Corea ( 2016M1B3A1A01937575)
Materials
| Name | Company | Catalog Number | Comments |
| KVE-2004L | Korea Vacuum Tech. Ltd. | E-beam evaporator system | |
| Cary 500 | Varian, USA | UV-Vis-NIR spectrophotometer | |
| T1-H-10 | Elma | Ultrasonic bath | |
| HSD150-03P | Misung Scientific Co., Ltd | Hot plate | |
| Isopropyl Alcohol (IPA) | OCI Company Ltd. | Isopropyl Alcohol (IPA) | |
| Buffered Oxide Etch 6:1 | Avantor | Buffered Oxide Etch 6:1 | |
| Acetone | OCI Company Ltd. | Acetone | |
| 4 inch Silicon Wafer | Hi-Solar Co., Ltd. | 4 inch Silicon Wafer (P-100, 1 - 20 ohm.cm, Single side polished, Thickness: 440 ± 20 μm) | |
| 2 inch Silicon Wafer | Hi-Solar Co., Ltd. | 2 inch Silicon Wafer (P-100, 1 - 20 ohm.cm, Single side polished, Thickness: 440 ± 20 μm) |
References
- Macleod, H. A. Thin-film optical filters. Institute of Physics Publishing. 3, 3rd, (2001).
- Baumeister, P. W. Optical Coating Technology. , SPIE Press. Bellingham, Washington. (2004).
- Kats, M. A., Blanchard, R., Genevet, P., Capasso, F. Nanometre optical coatings based on strong interference effects in highly absorbing media. Nat. Mater. 12, 20-24 (2013).
- Kats, M. A., et al. Ultra-thin perfect absorber employing a tunable phase change material. Appl. Phys. Lett. 101 (22), 221101 (2012).
- Lee, K. T., Seo, S., Lee, J. Y., Guo, L. J. Strong resonance effect in a lossy medium-based Optical Cavity for angle robust spectrum filters. Adv. Mater. 26 (36), 6324-6328 (2014).
- Song, H., et al. Nanocavity enhancement for ultra-thin film optical absorber. Adv. Mater. 26 (17), 2737-2743 (2014).
- Yoo, Y. J., Lim, J. H., Lee, G. J., Jang, K. I., Song, Y. M. Ultra-thin films with highly absorbent porous media fine-tunable for coloration and enhanced color purity. Nanoscale. 9 (9), 2986-2991 (2017).
- Garahan, A., Pilon, L., Yin, J., Saxena, I. Effective optical properties of absorbing nanoporous and nanocomposite thin films. J. Appl. Phys. 101 (1), 014320 (2007).
- Moharam, M. G. Coupled-wave analysis of two-dimensional dielectric gratings. Proc. SPIE. 883, 8-11 (1988).
- Robbie, K., Sit, J. C., Brett, M. J. Advanced techniques for glancing angle deposition. J. Vac. Sci. Technol. B. 16 (3), 1115-1122 (1998).
- Hawkeye, M. M., Brett, M. J. Glancing angle deposition: Fabrication, properties, and applications of micro- and nanostructured thin films. J. Vac. Sci. Technol. A. 25 (5), 1317-1335 (2007).
- Jang, S. J., Song, Y. M., Yu, J. S., Yeo, C. I., Lee, Y. T. Antireflective properties of porous Si nanocolumnar structures with graded refractive index layers. Opt. Lett. 36 (2), 253-255 (2011).
- Jang, S. J., Song, Y. M., Yeo, C. I., Park, C. Y., Lee, Y. T. Highly tolerant a-Si distributed Bragg reflector fabricated by oblique angle deposition. Opt. Mater. Exp. 1 (3), 451-457 (2011).
- Harris, K. D., Popta, A. C. V., Sit, J. C., Broer, D. J., Brett, M. J. A Birefringent and Transparent Electrical Conductor. Adv. Funct. Mater. 18 (15), 2147-2153 (2008).
- Fairman, H. S., Brill, M. H., Hemmendinger, H. How the CIE 1931 color-matching functions were derived from Wright-Guild data. Color Research & Application. 22 (1), 11-23 (1997).
- Oliver, J. B., et al. Electron-beam–deposited distributed polarization rotator for high-power laser applications. Opt. Exp. 22 (20), 23883-23896 (2014).
