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व्हाइट प्रकाश माइक्रोस्कोप इंटरफेरोमेट्री सतहों की स्थलाकृति को मापने के लिए एक ऑप्टिकल noncontact, और त्वरित तरीका है. यह यांत्रिक पहनते विश्लेषण, जहां पहनना tribological परीक्षण के नमूने विश्लेषण कर रहे हैं पर निशान की ओर विधि को कैसे लागू किया जा सकता है, और विज्ञान के क्षेत्र में सामग्री आयन बीम sputtering या लेजर पृथक मात्रा और गहराई का निर्धारण करने के लिए दिखाया गया है.
