Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

Характеристика модификации поверхности белым светом интерферометрии, применения в ионного распыления, лазерной абляции, и трибологии Эксперименты
 
Click here for the English version

Характеристика модификации поверхности белым светом интерферометрии, применения в ионного распыления, лазерной абляции, и трибологии Эксперименты

Article DOI: 10.3791/50260-v 11:47 min February 27th, 2013
February 27th, 2013

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Белый свет интерферометрии микроскоп оптический, бесконтактный и быстрый способ для измерения топографии поверхности. Показано, как метод может быть применен к анализу механического износа, где носят шрамы на трибологических тестовые образцы анализируются, и в материаловедении для определения ионного пучка распыления или лазерной абляции объемов и глубины.

Tags

Материаловедение выпуск 72 физики ионных пучков (ядерных взаимодействий) отражения света оптических свойств полупроводниковых материалов Белый интерферометрии свет ионного распыления лазерной абляции фемтосекундных лазеров глубина профилирования время-пролетной масс-спектрометрии трибологии Носите анализ оптическая профилометрии износа трения атомно-силовая микроскопия AFM сканирующей электронной микроскопии SEM изображений визуализации
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter