Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 20 seconds.

Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se
 

Atom Probe Tomografie Studies over de Cu (In, Ga) Se

Article doi: 10.3791/50376
April 22nd, 2013 Usage Statistics

Summary April 22nd, 2013

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
simple hit counter