JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.
Chapters
Summary
Please note that all translations are automatically generated.
I dette arbejde beskriver vi anvendelsen af atom-sonde tomografi teknik til undersøgelse af korngrænserne af absorberingslaget i en CIGS solcelle. En ny tilgang til at forberede atom probespidser indeholder det ønskede korngrænse med en kendt struktur er også præsenteret her.