JoVE Journal
Engineering
Engineering
You have full access to this content through Seoul National University of Education
Summary April 22nd, 2013
Please note that all translations are automatically generated.
In dit werk, beschrijven we het gebruik van het atoom-probe tomografie techniek voor het bestuderen van de korrelgrenzen van de absorptielaag in een CIGS zonnecel. Een alternatief middel om de atoom meetpennen die de gewenste korrelgrens met een bekende structuur te bereiden wordt hier gepresenteerd.
