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Atom Probe tomografias no Cu (In, Ga) Sé
 
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Atom Probe tomografias no Cu (In, Ga) Sé

Article doi: 10.3791/50376
April 22nd, 2013

Summary April 22nd, 2013

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Neste trabalho, nós descrevemos o uso da técnica de tomografia por sonda átomo para estudar os limites dos grãos da camada de absorção de uma célula solar de CIGS. Também é apresentada uma nova abordagem para preparar as pontas das sondas que contêm o átomo de limite de grão desejado, com uma estrutura conhecida aqui.

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