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JoVE Journal Engineering
Implementierung eines Referenz-Interferometer für Nanodetection
Characterization of Nanocrystal Size Distribution using Raman Spectroscopy with a Multi-particle Phonon Confinement Model
Journal (Engineering)
Characterization of Nanocrystal Size Distribution using Raman Spectroscopy with a Multi-particle Phonon Confinement Model
Fast Imaging Technique to Study Drop Impact Dynamics of Non-Newtonian Fluids
Journal (Engineering)
Fast Imaging Technique to Study Drop Impact Dynamics of Non-Newtonian Fluids
 
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Implementierung eines Referenz-Interferometer für Nanodetection

Article DOI: 10.3791/51133-v • 16:12 min • April 26th, 2014
April 26th, 2014 •
*1, *1, 1
1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Victoria
* These authors contributed equally

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Eine Referenz-Interferometer-Technik, die ausgelegt ist, um unerwünschte Laser Jitterrauschen für nanodetection entfernen, wird für die Sondierung eine ultra-hohe Güte Microcavity genutzt. Anleitungen für die Montage, Einrichtung und Datenerfassung vorgesehen, neben der Messung für die Angabe der Hohlraum Qualitätsfaktor.

Tags

Physik Ausgabe 86 Biosensor Nanodetektor optische Mikrohohlraum flüsternd-Galerie Modus Höhle Referenz-Interferometer Nanopartikel freie Spektralbereich (FSR)
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