Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Chemistry / In Situ SIMS en IR spectroscopie van…
JoVE Journal
Chemistry

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Chemistry
In Situ SIMS en IR spectroscopie van Well-gedefinieerde oppervlakken die zachte landing van Mass-geselecteerde Ionen
Preparation of 6-aminocyclohepta-2,4-dien-1-one Derivatives via Tricarbonyl(tropone)iron
Journal (Chemistry)
Preparation of 6-aminocyclohepta-2,4-dien-1-one Derivatives via Tricarbonyl(tropone)iron
Screening of Coatings for an All-Solid-State Battery Using In Situ Transmission Electron Microscopy
Journal (Chemistry)
Screening of Coatings for an All-Solid-State Battery Using In Situ Transmission Electron Microscopy
 
Click here for the English version

In Situ SIMS en IR spectroscopie van Well-gedefinieerde oppervlakken die zachte landing van Mass-geselecteerde Ionen

Article DOI: 10.3791/51344-v • 10:22 min • June 16th, 2014
June 16th, 2014 •
1, 1, 1
1Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Zachte landing van in massa geselecteerde ionen op oppervlakken is een krachtige aanpak voor de zeer gecontroleerde bereiding van nieuwe materialen. In combinatie met de analyse door in situ secundaire ionen massaspectrometrie (SIMS) en infrarood reflectie absorptie spectroscopie (IRRAS), zachte landing biedt ongekende inzichten in de interacties van welbepaalde soorten met oppervlakken.

Tags

Chemie zachte landing massa geselecteerde ionen elektrospray secundaire ionen massaspectrometrie infrarood spectroscopie organometallic katalyse
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter