Journal
/
/
בSIMS אתרו וIR ספקטרוסקופיה של משטחים מוגדרים היטב הוכן על ידי רכה נחיתה של יונים המוניים שנבחרו
JoVE Journal
Chemistry
A subscription to JoVE is required to view this content.  Sign in or start your free trial.
JoVE Journal Chemistry
In Situ SIMS and IR Spectroscopy of Well-defined Surfaces Prepared by Soft Landing of Mass-selected Ions
DOI:

10:22 min

June 16, 2014

, ,

Chapters

  • 00:05Title
  • 02:13Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions
  • 03:07Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces
  • 04:17Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases
  • 05:59Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing
  • 07:28Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy
  • 09:39Conclusion

Summary

Automatic Translation

נחיתה רכה של יונים שנבחרו המוניים על גבי משטחים היא גישה רבת עוצמה לעריכה לשליטה מאוד של חומרים חדשים. בשילוב עם ניתוח על ידי בספקטרומטריית האתר משנית המונית יון (SIMS) וספקטרוסקופיה קליטת השתקפות אינפרא אדום (IRRAS), נחיתה רכה מספקת תובנות חסרות תקדים לתוך האינטראקציות של מינים מוגדרים היטב עם משטחים.

Related Videos

Read Article