Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Chemistry / In situ SIMS og IR spektroskopi av godt definerte …
JoVE Journal
Chemistry

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Chemistry
In situ SIMS og IR spektroskopi av godt definerte overflater som er Soft Landing av Mass-utvalgte ioner
Using Graphene Liquid Cell Transmission Electron Microscopy to Study in Situ Nanocrystal Etching
Journal (Chemistry)
Using Graphene Liquid Cell Transmission Electron Microscopy to Study in Situ Nanocrystal Etching
Exfoliation of Egyptian Blue and Han Blue, Two Alkali Earth Copper Silicate-based Pigments
Journal (Chemistry)
Exfoliation of Egyptian Blue and Han Blue, Two Alkali Earth Copper Silicate-based Pigments
 
Click here for the English version

In situ SIMS og IR spektroskopi av godt definerte overflater som er Soft Landing av Mass-utvalgte ioner

Article DOI: 10.3791/51344-v • 10:22 min • June 16th, 2014
June 16th, 2014 •
1, 1, 1
1Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Myk landing av masse-valgte ioner mot flatene er en kraftig metode for høyt styrt fremstilling av nye materialer. Sammen med analyse ved in situ sekundær ion massespektrometri (SIMS) og infrarød refleksjon absorpsjon spektroskopi (IRRAS), gir myk landing enestående innsikt i samspillet av veldefinerte arter med overflater.

Tags

Kjemi myk landing masse utvalgte ioner electro sekundær ion massespektrometri infrarød spektroskopi organometallisk katalyse
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter