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Préparation d’échantillons pour la microscopie à force atomique à virion unique et l’imagerie par fluorescence à super-résolution
 
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Préparation d’échantillons pour la microscopie à force atomique à virion unique et l’imagerie par fluorescence à super-résolution

Article DOI: 10.3791/51366-v 05:31 min January 2nd, 2014
January 2nd, 2014

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La fixation de virions à une surface est une exigence pour l’imagerie à virion unique par imagerie par fluorescence à super-résolution ou microscopie à force atomique (AFM). Nous démontrons ici une méthode de préparation d’échantillons pour une adhérence contrôlée des virions aux surfaces vitrées adaptées à une utilisation dans l’AFM et l’imagerie par fluorescence à super-résolution.

Tags

Protocole de base Numéro 83 AFM Imagerie par fluorescence super-résolution imagerie à virion unique fPALM dSTORM PALM
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