Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Biology

This content is Open Access.

Cryo-elektron microscopie Specimen Voorbereiding door middel van een Focused Ion Beam
 
Click here for the English version

Cryo-elektron microscopie Specimen Voorbereiding door middel van een Focused Ion Beam

Article DOI: 10.3791/51463-v 10:54 min July 26th, 2014
July 26th, 2014

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Cryo elektronenmicroscopen, ofwel Scanning (SEM) of Transmission (TEM), worden op grote schaal gebruikt voor de karakterisering van biologische monsters of andere materialen met een hoog watergehalte 1. Een SEM / focused ion beam (FIB) wordt gebruikt om kenmerken van belang in monsters identificeren en extract een dun, elektron-transparante lamellen overbrenging op een cryo-TEM.

Tags

Biotechniek cryoelectron Microscopy Life Sciences (Algemeen) Cryo-microscopie focused ion beam Staalvoorbereiding TEM FIB
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter