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Cryo-microscopie électronique à la préparation des échantillons au moyen d'un faisceau d'ions focalisés
 
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Cryo-microscopie électronique à la préparation des échantillons au moyen d'un faisceau d'ions focalisés

Article DOI: 10.3791/51463-v 10:54 min July 26th, 2014
July 26th, 2014

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Cryo Electron Microscope, soit à balayage (MEB) ou de transmission (TEM), sont largement utilisés pour la caractérisation des échantillons biologiques ou d'autres matériaux avec une forte teneur en eau 1. Une SEM / Focused Ion Beam (FIB) est utilisé pour identifier les caractéristiques d'intérêt dans des échantillons et extraire une lame mince, électron-transparent pour le transfert à un cryo-MET.

Tags

Bio-ingénierie Numéro 89 cryoélectronique microscopie sciences de la vie (général) Cryo-microscopie faisceau d'ions focalisés la préparation de l'échantillon TEM FIB
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