JoVE Journal
Engineering
Engineering
A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 2 minutes.
Chapters
Summary August 22nd, 2015
Please note that all translations are automatically generated.
Мы показываем, как определить распределение по размерам полупроводниковых нанокристаллов в количественном выражении с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния, использующего аналитически определенный фононов удержания модель мульти-частиц. Результаты, полученные в отличном согласии с другими методами анализа размера, как просвечивающей электронной микроскопии и фотолюминесценции спектроскопии.
