Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / אפיון התפלגות גודל ננו באמצעות ראמאן ספקטרוסקופיה …
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
אפיון התפלגות גודל ננו באמצעות ראמאן ספקטרוסקופיה עם דגם Phonon מאסר רב-חלקיקים
Polycrystalline Silicon Thin-film Solar cells with Plasmonic-enhanced Light-trapping
Journal (Engineering)
Polycrystalline Silicon Thin-film Solar cells with Plasmonic-enhanced Light-trapping
In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation
Journal (Engineering)
In-situ Tapering of Chalcogenide Fiber for Mid-infrared Supercontinuum Generation
 
Click here for the English version

אפיון התפלגות גודל ננו באמצעות ראמאן ספקטרוסקופיה עם דגם Phonon מאסר רב-חלקיקים

Article DOI: 10.3791/53026-v • 06:54 min • August 22nd, 2015
August 22nd, 2015 •
1, 1,2
1Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, 2Dutch Institute for Fundamental Energy Research

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

אנו מדגימים כיצד לקבוע את התפלגות הגודל של nanocrystals מוליכים למחצה באופן כמותי באמצעות ספקטרוסקופיית ראמאן העסקת מודל כליאת פונון רב-חלקיקים מוגדרים באופן אנליטי. תוצאות שהתקבלו הן בהסכם מצוין עם טכניקות ניתוח גודל אחרות כמו מיקרוסקופ אלקטרונים הולכה וספקטרוסקופיה photoluminescence.

Tags

הנדסה גיליון 102 ננו התפלגות גודל ספקטרוסקופיית ראמאן כליאת פונון תכונות גודל תלוי סיליקון
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter