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Quantification des concentrations d'hydrogène dans des surfaces et interfaces des couches et des matériaux en vrac par le biais de profils en profondeur avec l'analyse de la réaction nucléaire
 
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Quantification des concentrations d'hydrogène dans des surfaces et interfaces des couches et des matériaux en vrac par le biais de profils en profondeur avec l'analyse de la réaction nucléaire

Article DOI: 10.3791/53452-v 14:11 min March 29th, 2016
March 29th, 2016

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Nous illustrons l'application du 1 H (15 N, αγ) 12 C résonance nucléaire analyse de la réaction (ARN) à évaluer quantitativement la densité des atomes d'hydrogène sur la surface, dans le volume, et une couche interfaciale de matières solides. La profondeur proche de la surface d'hydrogène d'un profilage de Pd (110) monocristallin et de SiO 2 / Si (100) empile est décrit.

Tags

Ingénierie numéro 109 l'hydrogène quantification la profondeur du profil de l'hydrogène de surface de l'hydrogène en masse l'interface d'hydrogène l'analyse de réaction nucléaire une analyse par faisceau d'ions
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