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Die Quantifizierung von Wasserstoffkonzentrationen in Oberflächen- und Grenzflächenschichten und Schüttgüter durch Tiefenprofilierung mit Kernreaktionsanalyse
 
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Die Quantifizierung von Wasserstoffkonzentrationen in Oberflächen- und Grenzflächenschichten und Schüttgüter durch Tiefenprofilierung mit Kernreaktionsanalyse

Article DOI: 10.3791/53452-v 14:11 min March 29th, 2016
March 29th, 2016

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Wir veranschaulichen die Anwendung von H 1 (15 N, αγ) 12 C resonanten Kernreaktionsanalyse (NRA) , um quantitativ die Dichte der Wasserstoffatome an der Oberfläche, im Volumen und an einer Grenzflächenschicht aus festen Materialien zu bewerten. Die oberflächennahe Wasserstofftiefenprofilierung einer Pd (110) -Einkristall und von SiO 2 / Si (100) stapelt beschrieben.

Tags

Technik Heft 109 Wasserstoff Quantifizierung Tiefenprofilierung Oberfläche Wasserstoff bulk Wasserstoff Schnittstelle Wasserstoff Analyse Kernreaktionsanalyse Ionenstrahl
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