Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

Luce migliorato Acido fluoridrico passivazione
 
Click here for the English version

Luce migliorato Acido fluoridrico passivazione: una tecnica sensibile per il rilevamento di difetti Silicon Bulk

Article DOI: 10.3791/53614-v 09:15 min January 4th, 2016
January 4th, 2016

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

A RT superficie liquida tecnica di passivazione per indagare l'attività ricombinazione di difetti di silicio di massa è descritta. Per la tecnica abbia successo, tre passaggi critici sono richiesti: (i) pulizia chimica ed attacco del silicio, (ii) l'immersione del silicio in 15% di acido fluoridrico e (iii) l'illuminazione per 1 min.

Tags

Ingegneria Numero 107 durata Bulk difetti acido fluoridrico illuminazione passivazione photoconductance ricombinazione.
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter