Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Işık Geliştirilmiş Hidroflorik Asit Pasifleme:…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
Işık Geliştirilmiş Hidroflorik Asit Pasifleme
Laser-induced Forward Transfer for Flip-chip Packaging of Single Dies
Journal (Engineering)
Laser-induced Forward Transfer for Flip-chip Packaging of Single Dies
Etalon Characterization (Video) | JoVE
Journal (Engineering)
Etalon Characterization (Video) | JoVE
 
Click here for the English version

Işık Geliştirilmiş Hidroflorik Asit Pasifleme: Dökme Silikon Kusurları Tespit için Hassas Tekniği

Article DOI: 10.3791/53614-v • 09:15 min • January 4th, 2016
January 4th, 2016 •
1
1Research School of Engineering, Australian National University

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Toplu silikon kusurları rekombinasyon aktivitesini araştırmak için bir RT sıvı yüzey pasivasyon tekniği tarif edilmiştir. 1 dakika boyunca% 15 hidroflorik asit ve (iii) aydınlatma, (i) kimyasal temizlik ve silikon aşındırma, silisyum, (ii) daldırma: tekniği başarılı olması için, üç kritik adımları gereklidir.

Tags

Mühendislik Sayı 107 Toplu ömür kusurlar hidroflorik asit aydınlatma pasivasyon photoconductance rekombinasyon.
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter