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Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung
 
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Compact-Objektiv lose digitale holografische Mikroskop für MEMS-Inspektion und Charakterisierung

Article DOI: 10.3791/53630-v 10:28 min July 5th, 2016
July 5th, 2016

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Wir präsentieren eine kompakte Reflexion digitale holografische System (CDHM) zur Inspektion und Charakterisierung von MEMS-Bauelementen. Ein linsenloses Design einen divergierenden Eingangswelle bietet natürliche geometrische Vergrößerung verwendet wird demonstriert. Sowohl statische als auch dynamische Studien vorgestellt.

Tags

Technik Heft 113 Digitale Holografie-Bildgebungssystem quantitative Phasenmessung Mikroskopie zerstörungsfreie Prüfung MEMS
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