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Mit Synchrotronstrahlung Mikrotomographie Mehrskalige Dreidimensionale Mikroelektronische Bauteile zur Untersuchung
 
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Mit Synchrotronstrahlung Mikrotomographie Mehrskalige Dreidimensionale Mikroelektronische Bauteile zur Untersuchung

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

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Für diese Studie Synchrotronstrahlung Mikrotomographie, zerstörungs dreidimensionale Abbildungstechnik wird verwendet, um einen gesamten mikroelektronisches Gehäuse mit einer Querschnittsfläche von 16 x 16 mm zu untersuchen. Aufgrund der hohen Fluss und Helligkeit des Synchrotron wurde die Probe in nur 3 min mit einer 8,7 um räumliche Auflösung abgebildet.

Tags

Technik Heft 110 Synchrotronstrahlung Mikro-Tomographie Röntgenbildgebung Computertomographie zerstörungsFehlerAnalyse freie Lote führen und dreidimensionale mikroelektronische Pakete
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