Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

L'utilizzo delle radiazioni al sincrotrone microtomografia a indagare multi-scala Pacchetti microelettronici tridimensionali
 
Click here for the English version

L'utilizzo delle radiazioni al sincrotrone microtomografia a indagare multi-scala Pacchetti microelettronici tridimensionali

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Per questo studio radiazione di sincrotrone micro-tomografia, una tecnica di imaging non distruttiva tridimensionale, è impiegato per esaminare un intero pacchetto microelettronica con una sezione trasversale di 16 x 16 mm. A causa della forte flusso e la luminosità del sincrotrone il campione è stato ripreso in soli 3 minuti con una risoluzione spaziale 8.7 micron.

Tags

Ingegneria Synchrotron Radiation micro-tomografia l'imaging a raggi X la tomografia computerizzata analisi dei guasti non distruttiva portare saldature liberi e tridimensionali pacchetti microelettronici
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter