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Usando Synchrotron Radiation microtomografia para investigar Multi-escala Pacotes de microeletrônicos tridimensionais
 
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Usando Synchrotron Radiation microtomografia para investigar Multi-escala Pacotes de microeletrônicos tridimensionais

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

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Para este estudo radiação sincrotrão micro-tomografia, uma técnica de imagem não destrutivo tridimensional, é empregue para investigar um pacote de microelectrónica inteira com uma área de secção transversal de 16 x 16 mm. Devido ao alto fluxo e brilho do sincrotrão a amostra foi fotografada em apenas 3 min com uma resolução espacial de 8,7 m.

Tags

Engenharia Edição 110 Synchrotron Radiation micro-tomografia imagem de raios-x tomografia computadorizada análise de falhas não-destrutivo chumbo soldas livres e tridimensionais pacotes microeletrônicos
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