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주 사형 전자 현미경으로 반도체 재료의 확장 된 결함의 포괄적 인 특성

Installation Method to Enhance Quality Control for Fiber Reinforced Polymer Spike Anchors

Journal (Engineering)

Installation Method to Enhance Quality Control for Fiber Reinforced Polymer Spike Anchors

Simultaneous Multi-surface Anodizations and Stair-like Reverse Biases Detachment of Anodic Aluminum Oxides in Sulfuric and Oxalic Acid Electrolyte

Journal (Engineering)

Simultaneous Multi-surface Anodizations and Stair-like Reverse Biases Detachment of Anodic Aluminum Oxides in Sulfuric and Oxalic Acid Electrolyte

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주 사형 전자 현미경으로 반도체 재료의 확장 된 결함의 포괄적 인 특성

Article DOI: 10.3791/53872-v • 11:14 min • May 28th, 2016

May 28th, 2016 •

Ellen Hieckmann¹, Markus Nacke¹, Matthias Allardt¹, Yury Bodrov¹, Paul Chekhonin², Werner Skrotzki², Jörg Weber¹

¹Institute of Applied Physics, Semiconductor Physics, Technische Universität Dresden, ²Institut für Strukturphysik, Technische Universität Dresden

Chapters

Tags

공학 판 (111) 주사 전자 현미경 (SEM) 규소 음극선 발광 (CL) 전자 빔 전류 (EBIC) 유도 된 교차 상관 전자 후방 산란 회절 (ccEBSD) 전위 입계 D 라인 발광

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