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Chemistry
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우리는 엑스레이의 강렬한, 펨 펄스에 의해 Buckminsterfullerene (C60)의 나노에서 유도 된 전자 피해를 조사 하도록 실험을 설명 합니다. 실험, 놀랍게도, 추계 되 고, 보다는 오히려 x-선 유도 전자 역학 C60 의 높은 상관, 수백 결정1내의 단위 셀의 확장 발견.