Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Chemistry / ספקטרוסקופיית בליעה גמורה (TIRAS) עבור זיהוי…
JoVE Journal
Chemistry

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Chemistry
ספקטרוסקופיית בליעה גמורה (TIRAS) עבור זיהוי Solvated אלקטרונים על ממשק פלזמה-נוזל
Sequencing of Plant Wall Heteroxylans Using Enzymic, Chemical (Methylation) and Physical (Mass Spectrometry, Nuclear Magnetic Resonance) Techniques
Journal (Chemistry)
Sequencing of Plant Wall Heteroxylans Using Enzymic, Chemical (Methylation) and Physical (Mass Spectrometry, Nuclear Magnetic Resonance) Techniques
Electrochemical Roughening of Thin-Film Platinum Macro and Microelectrodes
Journal (Chemistry)
Electrochemical Roughening of Thin-Film Platinum Macro and Microelectrodes
 
Click here for the English version

ספקטרוסקופיית בליעה גמורה (TIRAS) עבור זיהוי Solvated אלקטרונים על ממשק פלזמה-נוזל

Article DOI: 10.3791/56833-v • 08:50 min • January 24th, 2018
January 24th, 2018 •
1, 2, 3, 1,2
1Department of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Notre Dame, 2Department of Aerospace and Mechanical Engineering, University of Notre Dame, 3Department of Chemistry and Biochemistry, Notre Dame Radiation Laboratory, University of Notre Dame

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

מאמר זה מציג שיטה ספקטרוסקופית (TIRAS) הקליטה גמורה למדידת קצרת ימים רדיקלים חופשיים-ממשק פלזמה נוזלי. בפרט, TIRAS משמש לזיהוי אלקטרונים solvated מבוסס על שלהם ספיגת אופטי של אור אדום ליד 700 nm.

Tags

כימיה גיליון 131 solvated אלקטרון בליעה הלא-thermal פלזמה פלזמה אלקטרוכימיה זוהר פריקה אלקטרוליזה פלזמה-נוזל
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter