Photoelectron Imaging of Anions Illustrated by 310 Nm Detachment of F<sup>&#8722;</sup>

Justin Lyle; Sudharson Ravishankar Chandramoulee; C. Annie Hart; Richard Mabbs

doi:10.3791/57989

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Chemistry

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F⁻ 310 Nm 剥離によって示されている陰イオンの光電子イメージング

Photoelectron Imaging of Anions Illustrated by 310 Nm Detachment of F<sup>−</sup>

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Photoelectron Imaging of Anions Illustrated by 310 Nm Detachment of F⁻

F⁻ 310 Nm 剥離によって示されている陰イオンの光電子イメージング

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06:53 min

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July 27, 2018

DOI:

10.3791/57989-v

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10.3791/57989-v

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06:53 min

July 27, 2018

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Justin Lyle¹, Sudharson Ravishankar Chandramoulee¹, C. Annie Hart¹, Richard Mabbs¹

¹Department of Chemistry,Washington University in St. Louis

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ここでは、陰イオン種の光電子イメージングのためのプロトコルを提案する.マップ速度光電子イメージング、陰イオンと中性のエネルギーレベル、陰イオンおよび中立的な構造の詳細と陰イオンの電子状態の性質を提供することを使用して真空中で生成され、質量分析法による分離は陰イオンがプローブされます。

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Photoelectron Imaging Anions Electron Scattering Molecular Spectroscopy Reaction Dynamics Molecular Orbitals Electronic Structure Vibrational Energy Levels Scattering Resonances Auto-detachment Resonances Pulsed Nozzle Gas Mixture Discharge Time-of-flight Mass Spectrometry Imaging Mode Laser Trigger Repeller And Extractor Electrodes

F⁻ 310 Nm 剥離によって示されている陰イオンの光電子イメージング

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