Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / フロー…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
フロー イメージング技術を用いた粒子運動と乱流の同時測定
Electric-field Control of Electronic States in WS2 Nanodevices by Electrolyte Gating
Journal (Engineering)
Electric-field Control of Electronic States in WS2 Nanodevices by Electrolyte Gating
Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
Journal (Engineering)
Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures
 
Click here for the English version

フロー イメージング技術を用いた粒子運動と乱流の同時測定

Article DOI: 10.3791/58036-v • 10:53 min • March 12th, 2019
March 12th, 2019 •
1, 1
1Department of Coastal and Marine Systems Science, Coastal Carolina University

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

ここで説明する手法は、粒子運動と低粒子濃度の流れにおける乱流を同時に測定する低コストかつ比較的簡単な方法を提供しています。粒子画像流速測定法 (PIV) を用いて乱流、粒子の運動が重複するフィールド-の-ビューで高速カメラで得られた画像から計算されます。

Tags

工学問題 145、粒子画像流速測定、粒子追跡、粒子の沈降、格子乱流、オプティカル フロー測定技術、画像処理
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter