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Cálculo Teórico e Verificação Experimental para Redução de Deslocamento em Camadas Epitaxiais de Germânio com Vazios Semicilíndricos em Silício
 
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Cálculo Teórico e Verificação Experimental para Redução de Deslocamento em Camadas Epitaxiais de Germânio com Vazios Semicilíndricos em Silício

Article DOI: 10.3791/58897-v 06:57 min July 17th, 2020
July 17th, 2020

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Cálculo teórico e verificação experimental são propostos para uma redução da densidade de deslocamento de rosca (DT) em camadas epitaxiais de germânio com vazios semicilíndricos sobre silício. Cálculos baseados na interação de TDs e superfície via força de imagem, medições de TD e observações de microscópio eletrônico de transmissão de TDs são apresentados.

Tags

Engenharia Edição 161 Fotônica de silício germânio Ge crescimento de cristais crescimento epitaxial seletivo densidade de deslocamento de rosqueamento força de imagem cálculo teórico deposição química de vapor DCV microscópio eletrônico de transmissão MET
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