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Misure di vita portante in semiconduttori attraverso il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde
 
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Misure di vita portante in semiconduttori attraverso il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

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Come uno dei parametri fisici importanti nel settore dei semiconduttori, vettore vita viene misurata nel presente documento tramite un protocollo che impiegano il metodo di deperimento di fotoconduttività a microonde.

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