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전자 레인지 Photoconductivity 감퇴 메서드를 통해 반도체 캐리어 수명 측정
 
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전자 레인지 Photoconductivity 감퇴 메서드를 통해 반도체 캐리어 수명 측정

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

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반도체에 중요 한 물리적 매개 변수 중 하나로, 캐리어 평생 여기 전자 레인지 photoconductivity 감퇴 메서드를 사용 하는 프로토콜을 통해 측정 된다.

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