전자 레인지 Photoconductivity 감퇴 메서드를 통해 반도체 캐리어 수명 측정

반도체에 중요 한 물리적 매개 변수 중 하나로, 캐리어 평생 여기 전자 레인지 photoconductivity 감퇴 메서드를 사용 하는 프로토콜을 통해 측정 된다.