Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Transportør levetid målene på halvledere gjennom…
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

JoVE Journal Engineering
Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall
Atomically Traceable Nanostructure Fabrication
Journal (Engineering)
Atomically Traceable Nanostructure Fabrication
Fabrication of a Low-Cost, Fiber-Coupled, and Air-Spaced Fabry-Pérot Etalon
Journal (Engineering)
Fabrication of a Low-Cost, Fiber-Coupled, and Air-Spaced Fabry-Pérot Etalon
 
Click here for the English version

Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall

Article DOI: 10.3791/59007-v • 07:38 min • April 18th, 2019
April 18th, 2019 •
1, 1, 1,2
1Department of Electrical & Mechanical Engineering, Nagoya Institute of Technology, 2Frontier Research Institute for Material Science, Nagoya Institute of Technology

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Som en av viktige fysiske parametere i halvledere måles bærer levetid her via en protokoll ansette metoden mikrobølgeovn photoconductivity forfall.

Tags

Engineering tid problemet 146 mikrobølgeovn photoconductivity forfall metode karriere levetid halvledermateriale løst måling defekt karakterisering overflate rekombinasjon
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter