Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall
 
Click here for the English version

Transportør levetid målene på halvledere gjennom metoden mikrobølgeovn Photoconductivity forfall

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Som en av viktige fysiske parametere i halvledere måles bærer levetid her via en protokoll ansette metoden mikrobølgeovn photoconductivity forfall.

Transcript

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
simple hit counter