Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering

This content is Open Access.

Carrier livstid mätningar i halvledare via metoden mikrovågsugn Photoconductivity förfall
 
Click here for the English version

Carrier livstid mätningar i halvledare via metoden mikrovågsugn Photoconductivity förfall

Article doi: 10.3791/59007
April 18th, 2019

Summary April 18th, 2019

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Som en av de viktiga fysiska parametrarna i halvledare mäts transportören livstid häri via ett protokoll som sysselsätter metoden mikrovågsugn photoconductivity förfall.

Transcript

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
simple hit counter