Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / Full-fältstammar mätningar för Microstructurally…
JoVE Journal
Engineering
Author Produced

This content is Open Access.

JoVE Journal Engineering
Full-fältstammar mätningar för Microstructurally små trötthet spricka förökning med Digital bild korrelation metod
Drawing and Hydrophobicity-patterning Long Polydimethylsiloxane Silicone Filaments
Journal (Engineering)
Drawing and Hydrophobicity-patterning Long Polydimethylsiloxane Silicone Filaments
Fabrication of Magnetic Nanostructures on Silicon Nitride Membranes for Magnetic Vortex Studies Using Transmission Microscopy Techniques
Journal (Engineering)
Fabrication of Magnetic Nanostructures on Silicon Nitride Membranes for Magnetic Vortex Studies Using Transmission Microscopy Techniques
 
Click here for the English version

Full-fältstammar mätningar för Microstructurally små trötthet spricka förökning med Digital bild korrelation metod

Article DOI: 10.3791/59134-v • 07:37 min • January 16th, 2019
January 16th, 2019 •
1, 1, 1, 1
1Department of Mechanical Engineering, Aalto University School of Engineering

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Microstructurally liten trötthet spricka tillväxt beteende undersöks med en roman metodologiska ansatsen att kombinera spricka hastighet mätning och stam-fältet Tillväxtanalys som avslöjar fältet kumulativa deformation på sub korn nivå.

Tags

Fråga 143 Digital bild korrelation små trötthet spricka spricka hastighet tillväxthämning ingenjörsvetenskap och sub korn nivå skjuvning stam lokalisering stam inhomogenitet.
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter