Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Neuroscience

A subscription to JoVE is required to view this content.
You will only be able to see the first 20 seconds.

Оценка синаптических кратности, используя поклеточного патч зажим электрофизиологии
 

Оценка синаптических кратности, используя поклеточного патч зажим электрофизиологии

Article doi: 10.3791/59461
April 23rd, 2019

Summary April 23rd, 2019

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Здесь мы представляем протокол для оценки функциональных синаптических кратности, используя патч поклеточного зажим электрофизиологии острого мозга ломтиками.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
simple hit counter