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Corrosione dell'imaging nell'interfaccia Metal-Paint con spettrometria di massa ionica secondaria a tempo di volo
 
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Corrosione dell'imaging nell'interfaccia Metal-Paint con spettrometria di massa ionica secondaria a tempo di volo

Article DOI: 10.3791/59523-v 07:24 min May 6th, 2019
May 6th, 2019

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La spettrometria di massa ionica secondaria a tempo di volo viene applicata per dimostrare la morfologia chimica di mappatura e corrosione all'interfaccia metallo-vernice di una lega di alluminio dopo essere stata esposta ad una soluzione salina rispetto ad un campione esposto all'aria.

Tags

Chimica ToF-SIMS alluminio interfaccia metallo-vernice corrosione limite di rilevazione (LOD) spettri di massa imaging 2D
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