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Caractérisation des tableaux intégrés de phase optique de SiN sur une station d’essai à l’échelle des gaufrettes
Challenges in Rheological Characterization of Highly Concentrated Suspensions — A Case Study for Screen-printing Silver Pastes
Journal (Engineering)
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Caractérisation des tableaux intégrés de phase optique de SiN sur une station d’essai à l’échelle des gaufrettes

Article DOI: 10.3791/60269-v • 05:57 min • April 1st, 2020
April 1st, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 1
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

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Ici, nous décrivons le fonctionnement d’un circuit photonique intégré SiN contenant des tableaux optiques échelonnés. Les circuits sont utilisés pour émettre des faisceaux laser à faible divergence dans l’infrarouge proche et les orienter en deux dimensions.

Tags

Ingénierie Numéro 158 Tableaux en phase optique photonique intégrée SiN photonique de silicium direction de faisceau LIDAR deux dimensions longueur d’onde unique
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