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Caracterización de arreglos ópticos por fases integrados de SiN en una estación de prueba de escala de obleas
Multiplexing Focused Ultrasound Stimulation with Fluorescence Microscopy
Journal (Engineering)
Multiplexing Focused Ultrasound Stimulation with Fluorescence Microscopy
Measurements of Soil Carbon by Neutron-Gamma Analysis in Static and Scanning Modes
Journal (Engineering)
Measurements of Soil Carbon by Neutron-Gamma Analysis in Static and Scanning Modes
 
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Caracterización de arreglos ópticos por fases integrados de SiN en una estación de prueba de escala de obleas

Article DOI: 10.3791/60269-v • 05:57 min • April 1st, 2020
April 1st, 2020 •
1, 1, 1, 1, 1, 1, 1
1University Grenoble Alpes and CEA, LETI, Minatec Campus

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Aquí, describimos el funcionamiento de un circuito fotónico integrado siN que contiene matrices ópticas por fases. Los circuitos se utilizan para emitir rayos láser de baja divergencia en el infrarrojo cercano y dirigirlos en dos dimensiones.

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Ingeniería Número 158 Arreglos ópticos por fases Fotónica integrada SiN fotónica de silicio dirección de haz LIDAR dos dimensiones longitud de onda única
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