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Microscopia elettronica a trasmissione in situ con distorsione e fabbricazione di traverse asimmetriche basate su a -VO x afasemista
 
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Microscopia elettronica a trasmissione in situ con distorsione e fabbricazione di traverse asimmetriche basate su a -VO x afasemista

Article DOI: 10.3791/61026-v 09:49 min May 13th, 2020
May 13th, 2020

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Presentato qui è un protocollo per l'analisi dei cambiamenti nanostrutturali durante la polarizzazione in situ con microscopia elettronica a trasmissione (TEM) per una struttura metallico-isolante-metallo impilata. Ha applicazioni significative nella commutazione resistiva delle traverse per la prossima generazione di circuiti logici programmabili e hardware di neuromimetica, per rivelare i loro meccanismi operativi sottostanti e l'applicabilità pratica.

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Ingegneria Numero 159 commutazione resistiva microscopia elettronica a trasmissione in situ traverse analisi nanostrutturale commutazione di soglia volatile ossido di vanadio amorfo
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