Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Chemistry

This content is Open Access.

Подготовка наночастиц для анализа ToF-SIMS и XPS
 
Click here for the English version

Подготовка наночастиц для анализа ToF-SIMS и XPS

Article DOI: 10.3791/61758-v
September 13th, 2020

Chapters

Summary September 13th, 2020

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Представлен ряд различных процедур подготовки наночастиц для анализа поверхности (капельное литье, спиновое покрытие, осаждение из порошков и криофиксация). Мы обсуждаем проблемы, возможности и возможные применения каждого метода, особенно в отношении изменений свойств поверхности, вызванных различными методами приготовления.

Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter