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Chemistry

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Analyse quantitative de site atomique de dopants fonctionnels/défauts ponctuels dans des matériaux cristallins par microanalyse améliorée par canalisation électronique
 
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Analyse quantitative de site atomique de dopants fonctionnels/défauts ponctuels dans des matériaux cristallins par microanalyse améliorée par canalisation électronique

Article DOI: 10.3791/62015-v 07:24 min May 10th, 2021
May 10th, 2021

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Nous fournissons un aperçu général des méthodes de microanalyse quantitative pour estimer l’occupation du site des impuretés et de leurs états chimiques en tirant parti des phénomènes de canalisation d’électrons dans des conditions incidentes de bascule de faisceau d’électrons, qui extraient de manière fiable des informations des espèces minoritaires, des éléments légers, des vides d’oxygène et d’autres défauts ponctuels / linéaires / planaires.

Tags

Chimie Numéro 171 Microscopie électronique à transmission Channeling électronique Spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie Spectroscopie à perte d’énergie électronique Occupation dopante Géométrie des défauts ponctuels Analyse statistique Analyse quantitative Balancement du faisceau d’électrons
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