Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering
Author Produced

This content is Free Access.

Samlokalisering af Kelvin Probe Force Mikroskopi med andre mikroskopier og spektroskopier
 
Click here for the English version

Samlokalisering af Kelvin Probe Force Mikroskopi med andre mikroskopier og spektroskopier: Udvalgte applikationer inden for korrosionskarakterisering af legeringer

Article DOI: 10.3791/64102-v 12:18 min June 27th, 2022
June 27th, 2022

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Kelvin sondekraftmikroskopi (KPFM) måler overfladetopografi og forskelle i overfladepotentiale, mens scanningselektronmikroskopi (SEM) og tilhørende spektroskopier kan belyse overflademorfologi, sammensætning, krystallinitet og krystallografisk orientering. Derfor kan samlokaliseringen af SEM med KPFM give indsigt i virkningerne af nanoskala sammensætning og overfladestruktur på korrosion.

Tags

Ingeniørarbejde udgave 184
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter