Co-localizzazione della microscopia Kelvin Probe Force con altre microscopie e spettroscopie: applicazioni selezionate nella caratterizzazione della corrosione delle leghe

La microscopia a forza della sonda Kelvin (KPFM) misura la topografia superficiale e le differenze nel potenziale superficiale, mentre la microscopia elettronica a scansione (SEM) e le spettroscopie associate possono chiarire la morfologia, la composizione, la cristallinità e l'orientamento cristallografico della superficie. Di conseguenza, la co-localizzazione di SEM con KPFM può fornire informazioni sugli effetti della composizione su scala nanometrica e della struttura superficiale sulla corrosione.