Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
JoVE Journal
Engineering
Author Produced

This content is Free Access.

Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier
 
Click here for the English version

Samlokalisering av Kelvin Probe Force Microscopy med andre mikroskopier og spektroskopier: Utvalgte applikasjoner i korrosjonskarakterisering av legeringer

Article DOI: 10.3791/64102-v 12:18 min June 27th, 2022
June 27th, 2022

Chapters

Summary

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Kelvin-sondekraftmikroskopi (KPFM) måler overflatetopografi og forskjeller i overflatepotensial, mens skanningelektronmikroskopi (SEM) og tilhørende spektroskopi kan belyse overflatemorfologi, sammensetning, krystallinitet og krystallografisk orientering. Følgelig kan samlokalisering av SEM med KPFM gi innsikt i effekten av nanoskala sammensetning og overflatestruktur på korrosjon.

Tags

Engineering utgave 184
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter