Совместная локализация зондовой силовой микроскопии Кельвина с другими микроскопиями и спектроскопиями: избранные применения в коррозионной характеристике сплавов

Зондовая силовая микроскопия Кельвина (KPFM) измеряет топографию поверхности и различия в потенциале поверхности, в то время как сканирующая электронная микроскопия (SEM) и связанные с ней спектроскопии могут прояснить морфологию поверхности, состав, кристалличность и кристаллографическую ориентацию. Соответственно, совместная локализация SEM с KPFM может дать представление о влиянии наноразмерного состава и структуры поверхности на коррозию.