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In-situ-SIMS und IR-Spektroskopie von gut definierten Oberflächen durch weiche Landung der Messe-Ionen ausgewählt Vorbereitet

Article DOI: 10.3791/51344-v • 10:22 min • June 16th, 2014
June 16th, 2014 •
1, 1, 1
1Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory

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Weiche Landung der massenselektierten Ionen auf Oberflächen ist ein leistungsfähiges Konzept für die hoch-gesteuerte Herstellung von neuen Materialien. Mit der Analyse von in-situ-Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) und Infrarot-Reflexions-Absorptions-Spektroskopie (IRRAS) gekoppelt ist, bietet weiche Landung beispiellose Einblicke in die Wechselwirkungen von gut definierten Arten mit Oberflächen.

Tags

Chemie Heft 88 weiche Landung Massen ausgewählten Ionen Elektrospray Sekundärionen-Massenspektrometrie Infrarotspektroskopie metallorganischen Katalyse
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