Waiting
Login processing...

Trial ends in Request Full Access Tell Your Colleague About Jove
Journal / Engineering / 2-D Dama Faz GRATING kullanarak birden çok…
JoVE Journal
Engineering

A subscription to JoVE is required to view this content.

JoVE Journal Engineering
2-D Dama Faz GRATING kullanarak birden çok Directions boyunca X-ışını Işın Tutarlılık Ölçümü
Quasi-light Storage for Optical Data Packets
Journal (Engineering)
Quasi-light Storage for Optical Data Packets
Design and Characterization Methodology for Efficient Wide Range Tunable MEMS Filters
Journal (Engineering)
Design and Characterization Methodology for Efficient Wide Range Tunable MEMS Filters
 
Click here for the English version

2-D Dama Faz GRATING kullanarak birden çok Directions boyunca X-ışını Işın Tutarlılık Ölçümü

Article DOI: 10.3791/53025-v • 10:39 min • October 11th, 2016
October 11th, 2016 •
1,2, 1, 1, 1, 1
1X-ray Science Division, Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, 2Division of Science, Diamond Light Source Ltd.

Chapters

Summary
Automatic Translation

Please note that all translations are automatically generated.

Click here for the English version.

Ölçüm protokolü ve veri analizi yöntemi, aynı anda ızgaranın tek 2-B dama faz kullanılarak dört yöne boyunca bir senkrotron radyasyonu X-ışını kaynağı enine uyum elde etmek için verilmiştir. Bu basit teknik X-ışını kaynakları ve X-ışını optik tam enine tutarlılığı karakterizasyonu için uygulanabilir.

Tags

Mühendislik Sayı 116 Tutarlılık İnterferometre Metrolojik enstrümantasyon Talbot ve kendini görüntüleme etkileri Kırınım ızgaralar Görünürlük Fizik
Read Article

Get cutting-edge science videos from JoVE sent straight to your inbox every month.

Waiting X
Simple Hit Counter