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Lumière amélioré la passivation de l'acide fluorhydrique
 
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Lumière amélioré la passivation de l'acide fluorhydrique: une technique sensible pour détecter des défauts de silicium massif

Article DOI: 10.3791/53614-v 09:15 min January 4th, 2016
January 4th, 2016

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A la surface du liquide de passivation technique RT pour étudier l'activité de recombinaison des défauts de silicium en vrac est décrit. Pour la technique soit efficace, trois étapes essentielles sont nécessaires: (i) le nettoyage et la gravure chimique du silicium, (ii) immersion de silicium dans de l'acide fluorhydrique à 15% et (iii) l'illumination pendant 1 min.

Tags

Ingénierie numéro 107 la durée de vie en vrac les défauts l'acide fluorhydrique l'éclairage la passivation photoconductance recombinaison.
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