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El uso de la radiación del sincrotrón Microtomografía encargado de investigar multi-escala Paquetes microelectrónicos tridimensionales
 
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El uso de la radiación del sincrotrón Microtomografía encargado de investigar multi-escala Paquetes microelectrónicos tridimensionales

Article DOI: 10.3791/53683-v 08:46 min April 13th, 2016
April 13th, 2016

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Para este estudio radiación sincrotrón micro-tomografía, una técnica de imágenes no destructivo de tres dimensiones, se emplea para investigar un paquete microelectrónico entero con un área de sección transversal de 16 x 16 mm. Debido al alto flujo y el brillo del sincrotrón la muestra fue fotografiada en sólo 3 minutos con una resolución espacial de 8,7 micras.

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Ingeniería No. 110 la radiación sincrotrón micro-tomografía imágenes de rayos X tomografía computarizada análisis de falla no destructiva plomo soldaduras libres y tres dimensiones paquetes microelectrónicos
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